通过低压化学气相沉积制备多晶硅薄膜 (SiH4)
制备多晶硅最常用的工艺气体是硅烷 (SiH4).多晶硅薄膜也可以用其他气体制备,如乙硅烷(参考后一项),二氯甲硅烷,三氯甲硅烷。每一种都有自身的优势,这取决于应用范围。多晶硅薄膜也可以进行原位掺杂(使用磷烷,参考磷掺杂多晶硅的制备).
- 典型薄膜厚度: 0.1 - 2 μm
- 批产能: 50 (18 恒温区) 或者 100 (34 恒温区)
- 沉积速率: 6 - 20 nm/MIN. (60 - 200 Å/MIN.)
- 沉积气体: SILANE SiH4
- 沉积温度: 580 - 650 °C
- 折射率: 3.5 - 5.5
- 均匀性指标: < 3% USING 1σ
- 残余应力: 50 - 100 MPa
应用范围:MEMS结构层,电阻,MOSFET 栅极,动态记忆元板,沟槽填充,双极性晶体管发射端,光伏电池等.
低压化学气相沉积工艺
- 超高温氧化炉
- 氮化硅谐振腔
- 通过低压化学气相沉积制备掺杂多晶硅薄膜
- 通过低压化学气相沉积制备多晶硅薄膜 (SiH4)
- 通过低压化学气相沉积制备多晶硅薄膜 (Si2H6)
- 通过低压化学气相沉积制备低温氧化硅薄膜,掺杂低温氧化硅薄膜,硼磷硅玻璃,硼硅玻璃,磷硅玻璃
- 通过低压化学气相沉积制备高温氧化硅薄膜
- 通过低压化学气相沉积制备氧化硅薄膜(正硅酸乙酯)
- 通过低压化学气相沉积制备氮化硅薄膜
- 通过低压化学气相沉积制备低应力氮化硅薄膜
- 化学计量氮化硅薄膜
- 通过低压化学气相沉积制备氮氧化硅薄膜 (SiNxOy)
- 通过低压化学气相沉积制备锗硅薄膜 (Si-Ge) LPCVD
- 通过低压化学气相沉积制备半绝缘性多晶硅薄膜(SIPOS)
- 通过低压化学气相沉积制备多晶碳化硅
- 外延硅
- 通过低压化学气相沉积法制备纳米材料