通过低压化学气相沉积制备掺杂多晶硅薄膜
掺杂工艺例如反应气体增加磷烷和三氯化硼气体可以改变晶硅导电率和应力。掺杂多晶硅需要使用笼型舟这样可以得到更好的均匀性。加入磷烷可以使多晶硅沉积速率减小,而掺入硼则会增加多晶硅沉积速率。原位掺杂可以通过多步工艺步骤得到较好的厚度均匀性,它也是在低温环境下沉积的。它的缺点包括工艺复杂,厚度均匀性差,增加炉管清洗的难度。粗晶粒多晶硅可以达到细晶粒掺杂不能达到的程度.
应用范围:多晶硅可以用于电阻器,场效应管栅极,基于氢化非晶硅的薄膜电阻,动态记忆元板,沟槽填充,双极性晶体管发射器。掺杂多晶硅的传导性能足以应用于内部链接,静电器件,压阻电敏应变器。多晶硅(尤其是掺杂多晶硅)在MEMS 领域经常被用作结构材料.
- 典型薄膜厚度: 2.0 µm
- 沉积速率: 6-20 nm/min
- 折射率 AT 550 nm
- 使用特气: SILANE, PHOSPHINE 或者 BORON TRICHLORIDE
- 均匀性指标: < 3%
低压化学气相沉积工艺
- 超高温氧化炉
- 氮化硅谐振腔
- 通过低压化学气相沉积制备掺杂多晶硅薄膜
- 通过低压化学气相沉积制备多晶硅薄膜 (SiH4)
- 通过低压化学气相沉积制备多晶硅薄膜 (Si2H6)
- 通过低压化学气相沉积制备低温氧化硅薄膜,掺杂低温氧化硅薄膜,硼磷硅玻璃,硼硅玻璃,磷硅玻璃
- 通过低压化学气相沉积制备高温氧化硅薄膜
- 通过低压化学气相沉积制备氧化硅薄膜(正硅酸乙酯)
- 通过低压化学气相沉积制备氮化硅薄膜
- 通过低压化学气相沉积制备低应力氮化硅薄膜
- 化学计量氮化硅薄膜
- 通过低压化学气相沉积制备氮氧化硅薄膜 (SiNxOy)
- 通过低压化学气相沉积制备锗硅薄膜 (Si-Ge) LPCVD
- 通过低压化学气相沉积制备半绝缘性多晶硅薄膜(SIPOS)
- 通过低压化学气相沉积制备多晶碳化硅
- 外延硅
- 通过低压化学气相沉积法制备纳米材料